退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:差示热或扫描热量分析装置
公开/公告号JPS59170795A
专利类型
公开/公告日1984-09-27
原文格式PDF
申请/专利权人 SHIMAZU SEISAKUSHO KK;
申请/专利号JP19830045157
发明设计人 MARUTA MICHIO;
申请日1983-03-16
分类号G21C19/20;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 09:41:02
机译: 扫描热显微镜进行局部热分析和亚表面成像的方法和装置
机译: 通过扫描热显微镜进行局部热分析和亚表面成像的方法和装置