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APPARATUS FOR INVESTIGATIONS OF DURATION OF TRANSIENTS OF BIMETALLIC CONTACTS OF TEMPERATURE CONTROLLERS

机译:用于温度控制器的双接触点的持续时间的调查装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL132848B1

    专利类型

  • 公开/公告日1985-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号PL19800228877

  • 发明设计人

    申请日1980-12-30

  • 分类号G01R31/02;G01R29/02;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 08:13:28

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