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机译：集成电路的质量测量和定性的电路布置，最好是线性集成电路
公开/公告号HU189368B
专利类型
公开/公告日1986-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 MIKROELEKTRONIKAI VALLALATHU;
申请/专利号HU19830004012
发明设计人 BARTHAFERENCHU;VARGAI.GYOERGYHU;SCHOEDLERVINHU;SZTANKOJOZSEFHU;MALIKSANDORHU;
申请日1983-11-22
分类号G01R31/26;
国家 HU
入库时间 2022-08-22 07:41:32
机译： 集成电路的质量测量和定性的电路布置，最好是线性集成电路
机译： 用于对长度和角度测量传感器产生的正弦信号和余弦信号进行线性插值的电路装置，因此该电路可以与测量和参考传感器集成在同一芯片上
机译： 半导体集成电路测量插座，半导体集成电路测量系统以及去除半导体集成电路测量插座上的沉积物的方法
