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机译:薄磁性石榴石薄膜中畴壁饱和度的测量方法
公开/公告号SU1238154A1
专利类型
公开/公告日1986-06-15
原文格式PDF
申请/专利权人 DO G UNIVERSITET;
申请/专利号SU19843809686
发明设计人 ILCHISHIN OLEG VSU;VAJSMAN FELIKS LSU;GOROBETS YURIJ ISU;
申请日1984-11-06
分类号G11C11/14;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:33:53
机译: 铁石榴石薄磁膜中饱和磁化强度的测量方法
机译: 铁素体-石榴石一轴膜中域边界饱和度的测量方法及实现该方法的装置
机译: 非磁性石榴石单晶基质,铋替代型稀土铁石榴石单晶膜以及生长铋替代型稀土石榴石单晶膜的方法