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DEVICE FOR CHECKING LEAKAGE CURRENT OF COMPLEMENTARY METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS IN DYNAMIC MODE

机译：动态模式下互补金属氧化物半导体集成电路泄漏电流的检测装置

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摘要

the invention относитс means контрол devices and обнаружени open дефекта.в gotta be microchips or something before they are installed in the electronic device. the purpose of.изобретени - increase

机译：本发明的“发明”是指“装置”和“打开”的装置。在将它们安装到电子装置之前，必须是微芯片或其他东西。 .изобретени的目的-增加

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公开/公告号SU1242907A1

专利类型
公开/公告日1986-07-07

原文格式PDF
申请/专利权人 NII CHASOVOJ PROMYSHLENNOSTI;
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申请/专利号SU19802933305
发明设计人 DVORNIKOV VLADIMIR DSU;CHICHEV EDUARD KHSU;
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申请日1980-05-28
分类号G04D7/00;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:33:49

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