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Method for forming a slit hole in a metal layer in a bipolar double metal process

机译:在双极双金属工艺中在金属层中形成狭缝孔的方法

摘要

IC element having good heat stress resistance property was prepd. by the following steps: (1) forming the first metal layer by depositing the fist metal on the oxide layer of silicone substrate and photomasking; (2) forming insulation layer between the first metal layer and the second metal layer by depositing the first PIQ/PECVD and forming a through hole; (3) forming the second metal layer by depositing the second metal to bring the first metal layer partially in contact with the second metal layer and photomasking; (4) stabilizing surface by depositing the second PIQ/PECVD. A slit hole is formed in the second metal layer in the process of forming the second metal layer.
机译:准备具有良好的耐热应力特性的IC元件。通过以下步骤:(1)通过在硅衬底的氧化物层上沉积第一金属并进行光掩模形成第一金属层; (2)通过沉积第一PIQ / PECVD并形成通孔在第一金属层和第二金属层之间形成绝缘层; (3)通过沉积第二金属以使第一金属层与第二金属层部分接触并进行光掩模形成第二金属层; (4)通过沉积第二个PIQ / PECVD来稳定表面。在形成第二金属层的过程中在第二金属层中形成狭缝孔。

著录项

  • 公开/公告号KR870006671A

    专利类型

  • 公开/公告日1987-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 허신구;

    申请/专利号KR19850009845

  • 发明设计人 김대희;

    申请日1985-12-27

  • 分类号H01L29/70;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 07:14:22

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