机译:用于集成电路的金属布线层的形成涉及在接触孔中形成金属氮化物层,使得在孔的底部的金属氮化物层的浓度小于在孔的开口中的金属氮化物层的浓度。
公开/公告号DE102005023670A1
专利类型
公开/公告日2005-12-22
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号DE20051023670
申请日2005-05-23
分类号H01L21/3205;H01L21/283;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 21:20:18