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Lateral confinement of charge carriers in a multiple quantum well structure

机译:横向限制在多量子阱结构中的载流子

摘要

Non-invasive structures for laterally confining charge carriers in the narrow bandgap layers of a multiple quantum wall semiconductor device are disclosed. Such structures can be expected to be useful in charge coupled devices.
机译:公开了用于在多量子壁半导体器件的窄带隙层中横向限制电荷载流子的非侵入性结构。可以预期这样的结构在电荷耦合器件中是有用的。

著录项

  • 公开/公告号US4683484A

    专利类型

  • 公开/公告日1987-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BELL COMMUNICATIONS RESEARCH INC.;

    申请/专利号US19850768673

  • 发明设计人 GUSTAV E. DERKITS JR.;

    申请日1985-08-23

  • 分类号H01L29/48;H01L29/205;H01L29/78;H01L29/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 07:08:57

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