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机译:集成halvlederkredsloeb的老化过程中进行测试的程序和kredsloebskort
公开/公告号DK208087A
专利类型
公开/公告日1988-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 SCANTEST SYSTEMS A/S;
申请/专利号DK19870002080
发明设计人 JANUM VIGGO KAMSTRUP;
申请日1987-04-24
分类号G01R31/26;
国家 DK
入库时间 2022-08-22 07:00:38
机译: 集成halvlederkredsloeb的老化过程中进行测试的程序和kredsloebskort
机译: 老化测试过程中用于集成组件的测试系统使用适配器元件将老化板连接到具有不同测试电路的多个测试模块
机译: 集成电路的老化测试板处理器,将IC安装在测试板上的烧伤中,在测试中进行烧蚀之前,先通过电路板检查器中的烧伤对其进行短时测试