首页> 外国专利> METHOD FOR PRODUCING AN INSULATION ISOLATING THE ACTIVE AREAS OF A HIGHLY INTEGRATED CMOS CIRCUIT.

METHOD FOR PRODUCING AN INSULATION ISOLATING THE ACTIVE AREAS OF A HIGHLY INTEGRATED CMOS CIRCUIT.

机译:一种用于隔离绝缘,高度集成的CMOS电路有源区域的方法。

摘要

The invention relates to a method for the manufacture of insulating portions separating the active regions of a VLSI CMOS circuit wherein an oxide coated silicon substrate is etched in those regions in which minimal insulation is to be required by etching trenches in the oxide insulating layers overlying the minimal insulation regions and generating field oxide regions in the remaining portions separating the active regions. The etching is preferably carried out by a combination of dry and wet etching steps. The field oxide regions may be produced by the well known local oxidation of silicon (LOCOS).
机译:本发明涉及一种用于制造绝缘部分的方法,该绝缘部分将VLSI CMOS电路的有源区分开,其中在那些需要通过蚀刻覆盖其上的氧化物绝缘层中的沟槽而要求最小绝缘的区域中,蚀刻涂覆氧化物的硅衬底。最小的绝缘区域,并在分隔有源区域的其余部分中产生场氧化区域。蚀刻优选地通过干法和湿法蚀刻步骤的组合来进行。可以通过众所周知的硅的局部氧化(LOCOS)来产生场氧化物区域。

著录项

  • 公开/公告号AT45248T

    专利类型

  • 公开/公告日1989-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUENCHEN;

    申请/专利号AT19850115481T

  • 发明设计人 BEINVOGL WILLY DR.;

    申请日1985-12-05

  • 分类号H01L21/76;H01L21/82;H01L27/08;

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-22 06:36:58

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号