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REACTIVE GAS FOR PLASMA ASSISTED CHEMICAL ETCHING AND METHODS FOR STABLE PLASMA ETCHING OF SUBSTRATES OVER EDGES

机译:等离子体辅助化学刻蚀的活性气体和边缘上等离子稳定刻蚀的方法

摘要

A small percentage of an electronegative gas is included in a gas mixture which is fed into a plasma region of a plasma assisted chemical etching apparatus so as to suppress arc-like discharges at surface discontinuities of a substrate which is receiving etching treatment to shape the surface thereof.
机译:气体混合物中包含少量的负电气体,该气体混合物被馈入等离子体辅助化学蚀刻设备的等离子体区域,以抑制接受蚀刻处理以使表面成形的基板表面不连续处的电弧状放电其。

著录项

  • 公开/公告号IL104268D0

    专利类型

  • 公开/公告日1993-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUGHES AIRCRAFT COMPANY;

    申请/专利号IL19920104268

  • 发明设计人

    申请日1992-12-29

  • 分类号G01N;

  • 国家 IL

  • 入库时间 2022-08-22 05:11:28

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