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机译：能量色散X射线分析X射线探测器
公开/公告号JPH0613511Y2
专利类型
公开/公告日1994-04-06
原文格式PDF
申请/专利权人 日本電子株式会社;
申请/专利号JP19900010812U
发明设计人 平 正之;
申请日1990-02-06
分类号G01T7/00;G01T1/24;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 04:55:25
机译： 能量色散X射线I-FET SDD检测器设备以及用于脉冲复位中和能量色散X射线I-FET SDD检测器设备中的电荷的方法
机译： 能量分散型X射线I-FET SDD检测器设备以及能量分散型X射线I-FET SDD检测器设备中脉冲重置中和电荷的方法
机译： 能量色散X射线分析X射线探测器
