首页> 外国专利> ANTI-NORMAL STATE CHECKING CIRCUIT FOR MULTI-SENSOR

ANTI-NORMAL STATE CHECKING CIRCUIT FOR MULTI-SENSOR

机译:多传感器反常规状态检查电路

摘要

The circuit quickly processes control action without time delay in a home automation system. The circuit includes a detector (10) which has multi-sensors (a1-an), a buffer circuit (20) which outputs buffering outputs by specified read/write signals (R/W), interrupt generator (30) which generates an interrupt signals by abnormal state signals, a microprocessor (40) which controls a home automation system. The interrupt generator (30) includes a latch unit (31) which latches abnormal signal by read/write signals from microprocessor (40), and a comparator (32) which compares a previous state latch signal with a current state abnormal signal.
机译:该电路可快速处理控制动作,而不会在家庭自动化系统中造成时间延迟。该电路包括具有多个传感器(a1-an)的检测器(10),通过指定的读/写信号(R / W)输出缓冲输出的缓冲电路(20),产生中断的中断发生器(30)。通过异常状态信号发出信号,微处理器(40)控制家庭自动化系统。中断发生器(30)包括:锁存单元(31),其通过来自微处理器(40)的读/写信号来锁存异常信号;以及比较器(32),其将先前状态的锁存信号与当前状态的异常信号进行比较。

著录项

  • 公开/公告号KR940007908B1

    专利类型

  • 公开/公告日1994-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR19910021137

  • 发明设计人 LEE JONG - YONG;

    申请日1991-11-25

  • 分类号H04M11/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 04:37:52

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号