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Selective and blanket chemical vapor deposition of Cu from (amp;bgr;- diketonate)Cu(L).sub.n by silica surface modification

机译:通过二氧化硅表面改性从(b--二酮酸酯)Cu(L)n中选择性地进行毯式化学气相沉积铜

摘要

In microelectronic manufacture, vertical interconnects in integrated circuits are made by the selective deposition of copper onto SiO.sub.2, which is controlled by reacting the SiO.sub.2 surface with chlorotrimethylsilane or dimethyldichlorosilane. These silanes interact with the surface hydroxyl groups to reduce the number of sites at which (hfac)Cu(VTMS) can adsorb and react, therefore providing selectivity.
机译:在微电子制造中,集成电路中的垂直互连是通过将铜选择性沉积到SiO 2上而制成的,而SiO 2的表面是通过使SiO 2表面与三甲基氯硅烷或二甲基二氯硅烷反应来控制的。这些硅烷与表面羟基相互作用,以减少(hfac)Cu(VTMS)可以吸附和反应的部位数量,因此提供了选择性。

著录项

  • 公开/公告号US5358743A

    专利类型

  • 公开/公告日1994-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNIVERSITY OF NEW MEXICO;

    申请/专利号US19920980087

  • 发明设计人 MARK J. HAMPDEN-SMITH;TOIVO T. KODAS;

    申请日1992-11-24

  • 分类号C23C14/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:30:59

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