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Method and device for determining the accelerated aging of one or more elements with an electromagnetic aging parameter.

机译：用于确定具有电磁老化参数的一个或多个元素的加速老化的方法和装置。

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摘要

A method for determining the impedance change a parameter AGING ELECTROMAGNETIC on one or more elements having such parameter in which the element is placed in an oven at a predetermined temperature AND THE PERFORMING A MEASURE OF RESISTANCE This temperature.

机译：一种确定阻抗的方法，该方法改变一个或多个具有这样的参数的元件上的老化参数，其中该元件被放置在预定温度的烤箱中，并进行该温度的测量。

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公开/公告号ES2074119T3

专利类型
公开/公告日1995-09-01

原文格式PDF
申请/专利权人 INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW;LIMBURGS UNIVERSITAIR CENTRUM;
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申请/专利号ES19900200990T
发明设计人 STALS LAMBERT MATHIAS MARIA;ROGGEN JEAN JOSEPH MARIE;DE SCHEPPER LUC IRENA;DE CEUNINCK WARD AIME STEFAN;
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申请日1990-04-19
分类号G01R31/26;G01R31/30;
国家 ES
入库时间 2022-08-22 04:16:34

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