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Method and device for accelerated determining of ageing of one or more elements with an electromagnetic ageing parameter

机译：加速确定具有电磁老化参数的一个或多个元素的老化的方法和装置

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摘要

A method for determining the impedance change of an electromagnetic ageing parameter on one or more elements having such a parameter, wherein the element is placed in an oven at a predetermined temperature and wherein a measurement of the resistance at this temperature is performed.

机译：一种用于确定一个或多个具有该参数的元件上的电磁老化参数的阻抗变化的方法，其中，将所述元件置于预定温度的烤箱中，并且在该温度下进行电阻的测量。

著录项

公开/公告号EP0395149B1

专利类型
公开/公告日1995-06-28

原文格式PDF
申请/专利权人 INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW;LIMBURGS UNIVERSITAIR CENTRUM;
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申请/专利号EP19900200990
发明设计人 STALS LAMBERT MATHIAS MARIA;DE SCHEPPER LUC IRENA;ROGGEN JEAN JOSEPH MARIE;DE CEUNINCK WARD AIMÉ STEFAN;
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申请日1990-04-19
分类号G01R31/26;G01R31/30;
国家 EP
入库时间 2022-08-22 04:13:56

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