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Large-scale integration (LSI) test circuit

机译：大规模集成（LSI）测试电路

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The large-scale integration LSI test circuit comprises an exclusive-OR gate (3) and an external output pin (5). The exclusive-OR gate (3) receives at least some of the values supplied through external input pins (11 to 1n) from an LSI circuit. The output from the exclusive-OR gate is connected to the external output pin. IMAGE

机译：大规模集成LSI测试电路包括异或门（3）和外部输出引脚（5）。异或门（3）从LSI电路接收通过外部输入引脚（11至1n）提供的至少一些值。异或门的输出连接到外部输出引脚。 <图像>

著录项

公开/公告号FR2657171B1

专利类型
公开/公告日1994-12-16

原文格式PDF
申请/专利权人 NIPPON ELECTRIC CO;
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申请/专利号FR19910000438
发明设计人 YASUYUKI NASU;
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申请日1991-01-16
分类号G01R31/28;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 04:07:22

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