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METHOD FOR MEASURING POSITION AND INCLINATION, INCLINATION MEASURING METHOD AND ADJUSTMENT FOR POSITION AND INCLINATION OF CCD ELEMENT

机译:CCD元件的位置和倾斜度的测量方法,倾斜度的测量方法和调整

摘要

PURPOSE: To provide a method for measuring the position and the inclination and the inclination measuring method of the parts mounted on a precision mechanical equipment such as CCD cameras and the method for adjusting the position and the inclination of a CCD element. ;CONSTITUTION: At first, an optical unit 10 casts four rays 1, 2, 3 and 4 into a CCD element 15a. Then, the CCD element 15a detects the incident positions of the four rays 1, 2, 3 and 4. Finally, the deviating amounts in the directions of ϕ, θ, X, ψ and Y are detected by performing the operation by using the results of the detection.;COPYRIGHT: (C)1996,JPO
机译:目的:提供一种用于测量安装在诸如CCD相机的精密机械设备上的部件的位置和倾斜度的方法以及用于测量CCD元件的位置和倾斜度的方法。组成:首先,光学单元10将四束光线1、2、3和4投射到CCD元件15a中。然后,CCD元件15a检测四束光线1、2、3和4的入射位置。最后,通过使用θ轴进行操作来检测在φ,θ,X,ψ和Y方向上的偏离量。检测结果。;版权:(C)1996,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JPH08292128A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHARP CORP;

    申请/专利号JP19950098631

  • 发明设计人 MATSUBARA KAZUNORI;

    申请日1995-04-24

  • 分类号G01M11/00;H04N5/232;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 04:00:48

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