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QUADRUPOLE MASS SPECTOMETER

机译:四重质谱仪

摘要

PURPOSE: To satisfactorily match the emittance of an incident ion optical system with an acceptance of a quadupole mass filter (QMF) in all the time. ;CONSTITUTION: Application voltage of an incident ion optical system 12 is made to change according to drive voltage of QMF 13 so as to provide convergence according to mass of an object ion. The second incident ion optical system 24 which provides different convergence performance or divergence performance in the X axis and Y axis direction is added to the conventional axisymmetric incident ion optical system 12.;COPYRIGHT: (C)1996,JPO
机译:目的:为了使入射离子光学系统的发射率始终与接受四极质量过滤器(QMF)匹配。 ;组成:使入射离子光学系统12的施加电压根据QMF 13的驱动电压而变化,以根据目标离子的质量提供会聚。在传统的轴对称入射离子光学系统12中增加了在X轴和Y轴方向上提供不同的会聚性能或发散性能的第二入射离子光学系统24; COPYRIGHT:(C)1996,JPO

著录项

  • 公开/公告号JPH0845468A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-02-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHIMADZU CORP;

    申请/专利号JP19940197336

  • 发明设计人 KUMASHIRO SUMIO;TAKEBE MASAHIRO;

    申请日1994-07-29

  • 分类号H01J49/06;H01J49/42;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:58:12

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