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Bipolar transistor free from leakage current across thin base region and process of fabrication thereof

机译:在薄基区上没有泄漏电流的双极晶体管及其制造工艺

摘要

A bipolar transistor includes a base structure (31) in a hollow space (25a) on a single crystal silicon collector region (23a) defined by a silicon oxide layer (25), and the base structure has an extrinsic base (31c/31d) provided around a single crystal silicon emitter region (32a) and an intrinsic base layer (31a/31b) of single crystal silicon germanium decreasing the thickness from a central portion toward an outer periphery so as to decrease dislocation due to thermal stress in a heat treatment for the emitter region (32a).
机译:双极晶体管在由氧化硅层(25)限定的单晶硅集电极区域(23a)上的中空空间(25a)中包括基极结构(31),并且该基极结构具有非本征基极(31c / 31d)。设置在单晶硅发射极区(32a)和单晶硅锗的本征基极层(31a / 31b)的周围,从而从中心部分向外周减小厚度,从而减少热处理中由于热应力引起的位错用于发射极区域(32a)。

著录项

  • 公开/公告号EP0701287A3

    专利类型

  • 公开/公告日1996-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号EP19950114238

  • 发明设计人 SATO FUMIHIKO;

    申请日1995-09-11

  • 分类号H01L29/737;H01L29/10;H01L21/331;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 03:47:06

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