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Semiconductor memory device with error self-correction system starting parity bit generation/error correction sequences only when increase of error rate is forecasted

机译:具有错误自校正系统的半导体存储器件仅在预测错误率增加时才启动奇偶校验位生成/错误校正序列

摘要

A semiconductor memory device has a built-in error correction system for correcting undesirably inverted data bits, and the built-in error correction system starts a parity bit generating sequence and an error correcting sequence only when increase of error rate is forecasted, thereby increasing the access speed without sacrifice of the reliability.
机译:半导体存储器件具有用于校正不期望的反转数据位的内置错误校正系统,并且该内置错误校正系统仅在预测到错误率的增加时才启动奇偶校验位生成序列和错误校正序列,从而增加了错误率。访问速度而不会牺牲可靠性。

著录项

  • 公开/公告号US5546410A

    专利类型

  • 公开/公告日1996-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19940284204

  • 发明设计人 MANABU ANDO;JUNJI MONDEN;

    申请日1994-08-02

  • 分类号G11C29/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 03:38:06

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