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PROCESS FOR FORMING ULTRATHIN OXYNITRIDE LAYERS AND THIN LAYER DEVICES CONTAINING ULTRATHIN OXYNITRIDE LAYERS

机译:形成超薄氧氮化物层的方法和包含超薄氧氮化物层的薄层设备

摘要

A method of forming an oxynitride gate dielectric layer is disclosed. The oxynitride layer is formed by thermally growing an oxide layer under an atmosphere of nitric oxide and nitrous oxide. The oxynitride layer suppresses boron diffusion from the overlaying electrode.
机译:公开了一种形成氮氧化物栅极电介质层的方法。通过在一氧化氮和一氧化二氮的气氛下热生长氧化物层来形成氧氮化物层。氮氧化物层抑制硼从覆盖电极扩散。

著录项

  • 公开/公告号WO9827580A1

    专利类型

  • 公开/公告日1998-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SCOTT SPECIALTY GASES INC.;

    申请/专利号WO1997US20175

  • 发明设计人 KWONG DIM-LEE;LEONARDUZZI GIANNI D.;

    申请日1997-11-03

  • 分类号H01L21/316;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-22 02:51:34

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