首页> 外国专利> Parity test circuit for memory with twice the speed display valid

Parity test circuit for memory with twice the speed display valid

机译:具有两倍速度显示的存储器奇偶校验测试电路有效

摘要

A memory which is cleared by simultaneously clearing a special bit in each entry within the memory, an extra bit, used for other purposes, is also cleared. When both bits have a value of 0, parity checking is disabled. When either bit has a value of 1, parity checking is enabled. This prevents incorrect detection of parity errors after the memory device has been cleared. IMAGE
机译:通过同时清除存储器中每个条目中的特殊位来清除的存储器以及用于其他目的的额外位也将被清除。当两个位的值均为0时,将禁用奇偶校验。当任一位的值为1时,将启用奇偶校验。这样可以防止在清除存储设备后错误地检测到奇偶校验错误。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号DE69222554T2

    专利类型

  • 公开/公告日1998-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SGS THOMSON MICROELECTRONICS US;

    申请/专利号DE1992622554T

  • 发明设计人 RASTEGAR BAHADOR US;

    申请日1992-03-27

  • 分类号G06F11/10;G06F12/08;G06F11/08;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 02:42:56

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号