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Method of producing a semi-conductor with a highly doped zone situated between lightly doped zones, for the manufacture of transistors

机译:用于制造具有在轻掺杂区之间的高掺杂区的半导体的方法,用于制造晶体管

摘要

A method of producing a transistor with a highly doped zone situated between lightly doped zones. This method comprises: a first oblique implant of ions (100) into a first and a second zone (144, 142), a mask (114) being formed at the periphery of a third zone in order to protect the third zone from the ions of the first implant, a second oblique implant of ions (130) into the first and third zones, a mask (115) being formed at the periphery of the second zone (142) in order to protect the second zone (142) from the ions (130) of the second implant, then the formation of a gate of the transistor.
机译:一种制造晶体管的方法,该晶体管具有位于轻掺杂区之间的高掺杂区。该方法包括:将离子的第一斜向注入(100)到第一和第二区域(144、142)中,在第三区域的外围形成掩模(114),以保护第三区域免受离子的侵害。在第一注入的第一阶段中,第二倾斜注入的离子(130)进入第一和第三区域,在第二区域(142)的外围形成掩模(115),以保护第二区域(142)不受离子注入的影响。注入第二离子(130),然后形成晶体管的栅极。

著录项

  • 公开/公告号US5705410A

    专利类型

  • 公开/公告日1998-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE;

    申请/专利号US19960662793

  • 发明设计人 GEORGES GUEGAN;

    申请日1996-06-12

  • 分类号H01L21/265;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:40:30

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