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SHAPE MEASURING METHOD AND SHAPE MEASURING DEVICE, POSITION CONTROL METHOD, STAGE DEVICE, EXPOSURE APPARATUS AND METHOD FOR PRODUCING EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE

机译:形状测量方法和形状测量装置,位置控制方法,台架装置,曝光装置和曝光装置的制造方法,装置及制造装置

摘要

The shape of a reflecting surface (7XS) provided on a moving object (4) moving along a reference plane is linearly measured in the direction where the reflecting surface (7XS) extends at different points on a line perpendicular to the reference plane to obtain the shape of the reflecting surface (7XS). At least one of the position and posture of the moving object (4) is precisely controlled on the basis of the shape information thus collected, information on the two-dimensional position of the moving object (4), and information on the tilt of the reflecting surface (7XS).
机译:在反射面(7XS)在与基准面垂直的线上的不同点延伸的方向上,对沿基准面移动的移动体(4)上设置的反射面(7XS)的形状进行线性测量。反射面的形状(7XS)。基于这样收集的形状信息,关于移动物体(4)的二维位置的信息以及关于移动物体(4)的倾斜的信息,精确地控制移动物体(4)的位置和姿势中的至少一个。反射面(7XS)。

著录项

  • 公开/公告号WO0022376A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NIKON CORPORATION;NISHI KENJI;

    申请/专利号WO1999JP05640

  • 发明设计人 NISHI KENJI;

    申请日1999-10-13

  • 分类号G01B11/24;G03F9/00;H01L21/027;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-22 01:50:30

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