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SOI Treating method of nitride film and manufacturing method for SOI wafer using the same

机译:氮化物膜的SOI处理方法及使用该方法的SOI晶片的制造方法

摘要

Disclosed are a surface treatment method of an insulating film and a method of manufacturing an SOI wafer using the same. In the present invention, in the method for treating the surface of the insulating film formed on the wafer to be bonded to manufacture the SOI wafer, RCA cleaning the insulating film surface on the wafer, and removing the insulating film by dry etching from the top by a predetermined thickness. Steps. According to the present invention, a PBSOI wafer can be efficiently manufactured without a bonding defect using a smart cut process.
机译:公开了绝缘膜的表面处理方法以及使用该表面处理方法制造SOI晶片的方法。在本发明中,在用于处理在要键合的晶片上形成的绝缘膜的表面以制造SOI晶片的方法中,RCA清洁晶片上的绝缘膜表面,并通过干法蚀刻从顶部去除绝缘膜。预定厚度。脚步。根据本发明,可以使用智能切割工艺有效地制造没有粘结缺陷的PBSOI晶片。

著录项

  • 公开/公告号KR100238217B1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD.;

    申请/专利号KR19960058500

  • 发明设计人 이병훈;

    申请日1996-11-27

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 01:45:10

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