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Method for testing application specific integrated circuit in exchange system for radio interface

机译:在无线电接口交换系统中测试专用集成电路的方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号GB9930868D0

    专利类型

  • 公开/公告日2000-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号GB19990030868

  • 发明设计人

    申请日1999-12-24

  • 分类号H04M3/26;G01R31/28;G01R31/317;H04B17/00;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-22 01:37:48

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