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Method of crystal growth of a GaN layer over a GaAs substrate

机译:在GaAs衬底上生长GaN层的方法

摘要

A method of crystal growth of a GaN layer with an extremely high surface planarity over a GaAs substrate is provided, wherein a GaAs substrate is heated to a temperature in the range of 600° C. to 700° C. without supplying any group-V element including arsenic to form a Ga-rich surface on the GaAs substrate, before a first source material including N and a second source material including Ga are supplied along with a carrier gas onto a surface of the GaAs substrate to form a GaN layer over the GaAs substrate.
机译:提供了一种在GaAs衬底上具有极高的表面平坦度的GaN层的晶体生长的方法,其中将GaAs衬底加热到​​600℃范围内的温度。摄氏700度C.在将包含N的第一源材料和包含Ga的第二源材料与载气一起供应到GaAs的表面上之前,不供应任何包含砷的V族元素以在GaAs衬底上形成富Ga表面的步骤在GaAs衬底上形成GaN层。

著录项

  • 公开/公告号US6096130A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-08-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19970824017

  • 申请日1997-03-21

  • 分类号C30B25/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:36:36

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