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机译：puukuidun形状的测量方法
公开/公告号FI20010281A0
专利类型
公开/公告日2001-02-14
原文格式PDF
申请/专利权人 ABB CORPORATE RESEARCH OY;
申请/专利号FI20010000281
发明设计人 MUINONENKARRI;SAARINENKARI;
申请日2001-02-14
分类号7G01NA;
国家 FI
入库时间 2022-08-22 01:25:28
机译： 光三维形状测量装置的空间测量误差检查装置，检测空间测量误差的方法，校正方法，光学三维形状测量装置，光学三维形状测量装置的空间测量误差校准方法，以及平面标准 光学三维形状测量装置的光学性能检查
机译： 用于确定形状测量装置的不对准的方法，用于调整形状测量装置的方法，用于确定形状测量装置的不对准的程序和形状测量装置
