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Ion filling regulation method for HF quadrupole ion trap mass spectrometer calculates actual filling level for comparison with required filling level for regulation of ion filling

机译:HF四极杆离子阱质谱仪的离子填充调节方法计算实际填充水平,以与调节离子填充所需的填充水平进行比较

摘要

The ion filling regulation method determines the actual value of the filling level from the sum charge inertia of the stored ions during the recording of the mass spectrum, defined as the sum of the products of the ion currents and the square roots of the corresponding specific masses, in turn defined by the quotient of the mass and the ion elementary charge. The actual value of the filling level is compared with a required value for regulation of the ion filling of the ion trap.
机译:离子填充调节方法根据质谱记录期间存储的离子的总电荷惯性确定填充水平的实际值,该总电荷惯性定义为离子流与相应特定质量的平方根的乘积之和。进而由质量与离子基本电荷的商定义。将填充水平的实际值与调节离子阱离子填充所需的值进行比较。

著录项

  • 公开/公告号DE10027545C1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BRUKER DALTONIK GMBH;

    申请/专利号DE2000127545

  • 发明设计人 FRANZEN JOCHEN;BREKENFELD ANDREAS;

    申请日2000-06-02

  • 分类号H01J49/42;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:09:45

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