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Ion implantation system and method suitable for low energy ion beam implantation

机译:适用于低能离子束注入的离子注入系统和方法

摘要

In an ion implantation system, an ion beam generator generates and emits an ion beam containing ions of a target impurity element. A mass analyzing system derives desired ions from the ion beam to output an ion beam containing the desired ions. The ion beam emitted from the mass analyzing system becomes incident upon an inner cavity defined by a beam line. An electrostatic lens is being disposed in the inner cavity. The electrostatic lens converges the ion beam entered the inner cavity. The ion beam emitted from the beam line impinges upon a substrate into which impurities are to be implanted. A vacuum pump is being mounted on the beam line to evacuate the inner cavity of the beam line.
机译:在离子注入系统中,离子束产生器产生并发射包含目标杂质元素的离子的离子束。质量分析系统从离子束中导出所需离子,以输出包含所需离子的离子束。从质量分析系统发出的离子束入射到由束线定义的内腔上。静电透镜布置在内腔中。静电透镜会聚进入内部腔的离子束。从束线发射的离子束撞击要在其中注入杂质的衬底。真空泵安装在光束线上,以排空光束的内部腔体。

著录项

  • 公开/公告号US6191427B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-02-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LIMITED;

    申请/专利号US19980143101

  • 发明设计人 MASATAKA KASE;YOSHIYUKI NIWA;

    申请日1998-08-28

  • 分类号H01J373/00;H05H30/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:05:07

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