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EPITAXIAL GROWTH METHOD OF InGaP LAYER OR InAlP LAYER

机译:InGaP层或InAlP层的表观生长方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the density of hillocks of a major surface 12A of an InGaP layer 12.;SOLUTION: Intermediate reaction between group III raw gas and group V raw gas in a boundary layer near a GaAs substrate 10 is restrained.;COPYRIGHT: (C)2002,JPO
机译:解决的问题:为了减小InGaP层12的主表面12A的小丘的密度;解决方案:抑制III族原料气体和V族原料气体在GaAs衬底10附近的边界层中的中间反应。版权:(C)2002,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP2002025915A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OKI ELECTRIC IND CO LTD;

    申请/专利号JP20000202489

  • 申请日2000-07-04

  • 分类号H01L21/205;C30B29/40;H01L31/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 00:58:04

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