机译:分子膜图案形成方法,分子膜图案,制造半导体器件的方法,半导体器件,制造光电子器件的方法,光电子器件,制造电子器件和电子器件的方法
公开/公告号JP2002311592A
专利类型
公开/公告日2002-10-23
原文格式PDF
申请/专利权人 SEIKO EPSON CORP;
申请/专利号JP20010398537
申请日2001-12-27
分类号G03F7/075;C08G77/04;G02F1/1333;G02F1/1362;H01L21/027;H01L21/336;H01L29/786;H01L51/00;H05B33/10;H05B33/14;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:57:17