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Self-aligned fabrication technique for tri-tone attenuated phase-shifting masks

机译:三音衰减相移掩模的自对准制造技术

摘要

A structure and method are provided to ensure self-aligned fabrication of a tri-tone attenuated phase-shifting mask. A sub-resolution, 0 degree phase, greater than 90% transmission rim is provided along the edge of an opaque region. The alignment of this sub-resolution rim with the opaque and attenuated regions of the mask is performed in a single patterning step. In one embodiment, a narrow opaque region can be replaced by a sub-resolution, 0 degree phase, greater than 90% transmission line.
机译:提供了一种结构和方法,以确保三音衰减的相移掩模的自对准制造。沿着不透明区域的边缘提供大于90%传输边缘的亚分辨率,0度相位。该亚分辨率边缘与掩模的不透明和衰减区域的对准在单个图案化步骤中执行。在一实施例中,狭窄的不透明区域可以由亚分辨率,0度相位,大于90%的传输线代替。

著录项

  • 公开/公告号US2002132174A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NUMERICAL TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US20010810823

  • 发明设计人 CHRISTOPHE PIERRAT;

    申请日2001-03-16

  • 分类号G03F9/00;G03C5/00;G03C3/02;G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:53:01

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