首页> 外国专利> Test piece, analysis method using the test piece, and analysis system used for the method

Test piece, analysis method using the test piece, and analysis system used for the method

机译:试件,使用该试件的分析方法以及用于该方法的分析系统

摘要

A test piece having plural types of probes, an analysis method using the test piece and an analysis system used for the method effectively prevent incorrect association between one set of information concerning detected positions of the probes to which a target substance has bound and the other set of information concerning types and positions of all probes arranged and fixed on the test piece. As management information itself peculiar to the test piece or ID information indicating the content of the management information has been attached to a predetermined location on the test piece, the information concerning the detected positions of the probes to which the target substance has bound may be associated correctly with corresponding management information by detecting the management information or the ID information attached on the test piece concurrently with the positions of the probes to which the target substance has bound.
机译:具有多种探针的测试件,使用该测试件的分析方法以及用于该方法的分析系统有效地防止了与目标物质结合到的探针的检测位置有关的一组信息与另一组信息之间的错误关联。有关在试件上排列和固定的所有探针的类型和位置的信息。由于试件所特有的管理信息本身或表示管理信息内容的ID信息已被附加到试件上的预定位置,因此可以关联与目标物质所结合的探针的检测位置有关的信息。通过同时检测与目标物质结合的探针的位置的管理信息或ID信息,正确地检测对应的管理信息。

著录项

  • 公开/公告号US2002076831A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AKIMOTO TAIZO;

    申请/专利号US20000749752

  • 发明设计人 TAIZO AKIMOTO;

    申请日2000-12-28

  • 分类号G01N33/543;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:51:19

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号