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Method of fabricating an MOCVD titanium nitride layer utilizing a pulsed plasma treatment to remove impurities

机译:利用脉冲等离子体处理去除杂质的MOCVD氮化钛层的制造方法

摘要

A MOCVD is performed to form a titanium nitride layer on the surface of a semiconductor substrate. Following that, a pulsed plasma treatment is performed to remove hydro-carbon impurities from the titanium nitride layer. Therein, the pulsed plasma treatment is performed in a pressure chamber comprising nitrogen gas (N2) hydrogen gas (H2) or argon gas (Ar). A pressure of the pressure chamber is controlled to between 1 to 3 Torr, with the power of the pressure chamber controlled to between 500 and 1000 watts.
机译:进行MOCVD以在半导体衬底的表面上形成氮化钛层。随后,执行脉冲等离子体处理以从氮化钛层去除碳氢化合物杂质。其中,在包括氮气(N 2 ),氢气(H 2 )或氩气(Ar)的压力室中进行脉冲等离子体处理。压力室的压力控制在1至3托之间,压力室的功率控制在500至1000瓦之间。

著录项

  • 公开/公告号US6465348B1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNITED MICROELECTRONICS CORP.;

    申请/专利号US20010875506

  • 发明设计人 YU-PIAO WANG;

    申请日2001-06-06

  • 分类号H01L214/43;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:49:42

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