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POST-EPITAXIAL THERMAL OXIDATION FOR REDUCING MICROSTEPS ON POLISHED SEMICONDUCTOR WAFERSOST EPITAXIAL THERMAL OXIDATION

机译:表皮后热氧化以减少抛光的半导体晶片上的微粘菌而减少表皮热氧化

摘要

Disclosed is a system and method for handling post epitaxial thermal oxidation. The method produces semiconductor wafers by performing the steps of forming a wafer substrate, depositing an epilayer on the substrate, oxidizing a top portion of the epilayer, and removing the oxidized top portion. As a result, the wafer's surface is very smooth, with little or no micro-steps thereon.
机译:公开了一种用于处理外延后热氧化的系​​统和方法。该方法通过执行以下步骤来制造半导体晶片:形成晶片衬底,在衬底上沉积外延层,氧化该外延层的顶部以及去除被氧化的顶部。结果,晶片的表面非常光滑,其上几乎没有或没有微台阶。

著录项

  • 公开/公告号US2002106872A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-08-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOS EPI INC.;

    申请/专利号US20020114899

  • 发明设计人 KEITH LINDBERG;DANNY KENNEY;

    申请日2002-04-02

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:49:33

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