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METHOD FOR PRODUCING A DOPED AREA IN SILICON CARBIDE AND APPLICATION TO A SCHOTTKY DIODE

机译:碳化硅中掺杂区的制备方法及其在肖特基二极管中的应用

摘要

The invention concerns a method for making a vertical Schottky diode on a highly doped N-type silicon carbide substrate (1), comprising steps which consist in forming an N-type lightly doped epitaxial layer (2); etching out a peripheral trench at the active zone of the diode; forming a type P doped epitaxial layer; carrying out a planarization process so that a ring (6) of the P type epitaxial layer remains in the trench; forming an insulating layer (3) on the outer periphery of the component, said insulating layer partly covering said ring; and depositing a metal (4) capable of forming a Schottky barrier with the N type epitaxial layer.
机译:本发明涉及一种在高掺杂的N型碳化硅衬底(1)上制造垂直肖特基二极管的方法,该方法包括以下步骤:形成N型轻掺杂的外延层(2);刻蚀二极管的有源区周围的沟槽;形成P型掺杂外延层;进行平坦化处理,以使P型外延层的环(6)保留在沟槽中;在部件的外围上形成绝缘层(3),所述绝缘层部分地覆盖所述环;并沉积能够与N型外延层形成肖特基势垒的金属(4)。

著录项

  • 公开/公告号FR2816113A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STMICROELECTRONICS SA;

    申请/专利号FR20000014012

  • 发明设计人 COLLARD EMMANUEL;

    申请日2000-10-31

  • 分类号H01L29/872;H01L21/329;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 00:24:18

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