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Assembly tolerance analysis apparatus, assembly tolerance analysis method and storage medium

机译:组装公差分析装置,组装公差分析方法和存储介质

摘要

First, the assembly population of the probability distribution of the mounting state of each part (within the initial setting range of assembly tolerance) is generated using the Monte-Carlo method. Then, an individual group that meets the design specification designated by a user is detected and the initial setting of the assembly tolerance is modified using the individual group. In this case, sensitivity indicating the modification of the assembly tolerance of which part is the most efficient can also be calculated/presented. Furthermore, how much the modification amount should be can also be calculated/presented.
机译:首先,使用蒙特卡洛方法生成每个零件的安装状态的概率分布的装配体(在装配公差的初始设置范围内)。然后,检测满足用户指定的设计规格的单个组,并使用该单个组修改装配公差的初始设置。在这种情况下,还可以计算/呈现出灵敏度,该灵敏度指示修改哪个零件最有效的装配公差。此外,还可以计算/呈现多少修改量。

著录项

  • 公开/公告号US2002198680A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LIMITED;

    申请/专利号US20020056095

  • 发明设计人 YUICHI SATO;MASAYOSHI HASHIMA;

    申请日2002-01-28

  • 分类号G06F15/00;G06F17/18;G06F101/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:08:48

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