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Deposition of amorphous silicon films by high density plasma HDP-CVD at low temperatures

机译:低温下通过高密度等离子体HDP-CVD沉积非晶硅膜

摘要

Method and apparatus for depositing an amorphous silicon film on a substrate using a high density plasma chemical vapor deposition (HDP-CVD) technique is provided. The method generally comprises positioning a substrate in a processing chamber, introducing an inert gas into the processing chamber, introducing a silicon source gas into the processing chamber generating a high density plasma, and depositing the amorphous silicon film. The amorphous silicon film is deposited at a substrate temperature 500° C. or less. The amorphous silicon film may then be annealed to improve film properties.
机译:提供了使用高密度等离子体化学气相沉积(HDP-CVD)技术在衬底上沉积非晶硅膜的方法和设备。该方法通常包括将衬底放置在处理室中;将惰性气体引入处理室;将硅源气体引入处理室中,以产生高密度等离子体;以及沉积非晶硅膜。在500℃的衬底温度下沉积非晶硅膜。 C.或更少。然后可以对非晶硅膜进行退火以改善膜性能。

著录项

  • 公开/公告号US6559052B2

    专利类型

  • 公开/公告日2003-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APPLIED MATERIALS INC.;

    申请/专利号US20010893350

  • 发明设计人 TZUYUAN YIIN;ZHUANG LI;KENT ROSSMAN;

    申请日2001-06-26

  • 分类号H01L214/40;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:04:32

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