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METHOD FOR MULTILEVEL COPPER INTERCONNECTS FOR ULTRA LARGE SCALE INTEGRATION

机译:超大规模集成的多级铜互连的方法

摘要

A method of manufacturing integrated circuits using a thin metal oxide film (220)as a seed layer for building multilevel interconnects structures in integratedcircuits. Thin layer metal oxide films (220) are deposited on a wafer (210), andstandard optical lithography is used to expose the metal oxide film (220) in apattern corresponding to a metal line pattern (215). The metal oxide film (220)is converted to a layer of metal (240), and a metal film (250) may then be depositedon the converted oxide film (260) by either selective CVD or electroless plating.Via holes (280) are then fabricated in a similar process using via hole lithography.The process is continued until the desired multilevel structure is fabricated.
机译:使用薄金属氧化物膜制造集成电路的方法(220)作为在集成中构建多层互连结构的种子层电路。在晶片(210)上沉积薄层金属氧化物膜(220),并且标准的光刻技术用于在金属表面上暴露金属氧化物膜(220)。对应于金属线图案的图案(215)。金属氧化膜(220)将其转换为金属层(240),然后可以沉积金属膜(250)通过选择性CVD或化学镀在转化的氧化膜(260)上形成氧化膜。然后使用通孔光刻以类似的工艺制造通孔(280)。继续该过程,直到制造出所需的多层结构为止。

著录项

  • 公开/公告号SG98279A1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号SG2003043155

  • 发明设计人 AHN KIE Y.;GEUSIC JOSEPH E.;

    申请日2002-02-04

  • 分类号H01L21/4765;

  • 国家 SG

  • 入库时间 2022-08-22 00:00:50

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