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METHOD FOR MULTILEVEL COPPER INTERCONNECTS FOR ULTRA LARGE SCALE INTEGRATION

机译:超大规模集成的多级铜互连的方法

摘要

A method of manufacture integrated circuit, this method build multilevel interconnection structure in integrated circuits using thin metal oxide film as seed layer. Sheet metal oxide film deposition corresponds to the pattern of metal wire for the pattern of exposing metal oxidation film on chip and the photoetching of standard. The metal oxide film is transformed into one layer of metal, and the oxidation film that metal can be deposited over conversion passes through selectivity CVD or chemical plating. Via hole photoetching is used in the right post fabrication processing of via hole. The process, which is continued until, produces desired multilayered structure.
机译:一种制造集成电路的方法,该方法使用金属氧化物薄膜作为种子层在集成电路中建立多层互连结构。薄板金属氧化物膜的沉积对应于金属线的图案,用于金属片上的金属氧化膜的曝光和标准件的光蚀刻。金属氧化物膜被转化为一层金属,并且通过转化可以沉积金属的氧化膜通过选择性CVD或化学镀。在正确的过孔制造后处理中使用过孔光刻。一直进行到产生所需的多层结构的过程。

著录项

  • 公开/公告号EP1366513A4

    专利类型

  • 公开/公告日2008-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号EP20020714825

  • 发明设计人 AHN KIE Y.;GEUSIC JOSEPH E.;

    申请日2002-02-04

  • 分类号H01L21/4763;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:59:24

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