要解决的问题:提供一种光学拾取系统,当对从半导体激光器输出的激光束的强度水平进行调制时,可以容易且独立地改变激光束的光强度。
解决方案:光学头系统100具有:半导体激光输出控制部110发出激光束。光检测器120,其检测发射的激光束;样品处理部140进行样品处理。平均值处理部分150进行平均值处理;脉冲电流产生部分180产生擦除电流脉冲,写电流脉冲和读电流脉冲;控制部分200控制上述各部分。在将通过平均值处理获得的值和通过样本值处理获得的值相加的同时,基于相加值和每个电流脉冲来控制半导体激光器输出控制部110。
版权:(C)2004,日本特许厅和日本国家唱片公司
公开/公告号JP2004220662A
专利类型
公开/公告日2004-08-05
原文格式PDF
申请/专利权人 PIONEER ELECTRONIC CORP;
申请/专利号JP20030004827
申请日2003-01-10
分类号G11B7/125;G11B7/0045;H01S5/0683;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:28:38