要解决的问题:提供一种光学拾取系统,当对从半导体激光器输出的激光束的强度水平进行调制时,可以容易且独立地改变激光束的光强度。
解决方案:光学头系统100具有:半导体激光输出控制部110发出激光束。光检测器120,其检测发射的激光束;样品处理部140进行样品处理。脉冲电流产生部分160产生擦除电流脉冲,写电流脉冲和读电流脉冲;控制部分180控制上述各部分。基于预设的APC定时执行采样处理和每个脉冲电流的产生,并且基于每个脉冲电流和采样处理来控制半导体激光输出控制部分。
版权:(C)2004,日本特许厅和日本国家唱片公司
公开/公告号JP2004220663A
专利类型
公开/公告日2004-08-05
原文格式PDF
申请/专利权人 PIONEER ELECTRONIC CORP;
申请/专利号JP20030004828
申请日2003-01-10
分类号G11B7/0045;G11B7/125;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:28:38