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Temperature measuring device, a thermal infrared image sensor and temperature measurement method

机译:温度测量装置,红外热像传感器及温度测量方法

摘要

At least one forward-biased semiconductor diode having a potential barrier is used as a temperature sensor whose sensitivity can be finely adjusted. An operational amplifier circuit (A1) is used to apply a bias voltage of DC or rectangular waveform to a semiconductor diode (D) having a potential barrier used as a temperature sensor. In view of the fact that the temperature sensitivity of the semiconductor diode (D) depends on the height of its potential barrier, the forward bias voltage applied from a bias circuit (2) directly to the semiconductor diode (D) is finely adjusted to obtain desired temperature sensitivity. The output voltage of the sensor is associated with a current, having an exponential temperature dependence, which flows in the semiconductor diode (D) with the forward bias being fixed.
机译:至少一个具有势垒的正向偏置的半导体二极管被用作温度传感器,其灵敏度可以被精细地调节。运算放大器电路(A1)用于将DC或矩形波形的偏置电压施加到具有用作温度传感器的势垒的半导体二极管(D)。鉴于半导体二极管(D)的温度灵敏度取决于其势垒的高度,因此,对从偏置电路(2)直接施加到半导体二极管(D)的正向偏置电压进行微调,以获得所需的温度灵敏度。传感器的输出电压与具有指数温度相关性的电流相关联,该电流在固定正向偏压的情况下在半导体二极管(D)中流动。

著录项

  • 公开/公告号JP3583704B2

    专利类型

  • 公开/公告日2004-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 独立行政法人 科学技術振興機構;

    申请/专利号JP20000288612

  • 发明设计人 木村 光照;

    申请日2000-09-22

  • 分类号G01J5/22;G01J1/42;G01J1/44;G01J5/48;G01K7/01;H01L27/14;H01L27/146;H01L35/00;H04N5/33;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 23:27:21

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