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A CHEMISTRY FOR ETCHING QUATERNARY INTERFACE LAYERS ON INGAASP MOSTLY FORMED BETWEEN GAAS AND INXGA(1-X)P LAYERS

机译:在Gaas和INXGA(1-X)P层之间锻造的INGAASP上蚀刻四方界面层的化学反应

摘要

A kind of GaAs and InGaP layers of provide that the quaternary interface layers InxGa1-xAsyP1-y for etching formed the 2nd is at heterojunction bipolar transistor (HBTs). According to this method, the interface is exposed, by etching GaAs layers of selective etchant InGaP. Then the interface is selective to InGaP with HCL aqueous solution and H2O2. This method that the controlled etching provides allows HBTs that can manufacture with more complicated, may include multiple interfaces GaAs/InGaP close to ideal design.
机译:提供一种GaAs和InGaP层,用于形成第二层的用于蚀刻的四级界面层InxGa1-xAsyP1-y位于异质结双极晶体管(HBT)处。根据该方法,通过蚀刻选择性蚀刻剂InGaP的GaAs层来暴露界面。然后,该界面对使用HCL水溶液和H2O2的InGaP具有选择性。受控蚀刻提供的这种方法允许制造更复杂的HBT,其中可能包括接近理想设计的多个接口GaAs / InGaP。

著录项

  • 公开/公告号EP1470577A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MOTOROLA INC.;

    申请/专利号EP20020790128

  • 发明设计人 ABROKWAH JONATHAN K.;SADAKA MARIAM G.;

    申请日2002-12-13

  • 分类号H01L21/306;C09K13/04;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 22:51:05

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