退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:反射镜表面的精度和天线反射镜表面的控制的测量装置
公开/公告号FR2833765B1
专利类型
公开/公告日2004-09-24
原文格式PDF
申请/专利权人 MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA;
申请/专利号FR20020009621
发明设计人 TOMOHIRO MIZUNO;
申请日2002-07-29
分类号H01Q19/18;
国家 FR
入库时间 2022-08-21 22:39:36
机译: 反射镜的精密度测量装置及反射镜的反射镜面控制系统
机译: 反射天线和镜面控制系统的镜面精度测量装置
机译: 镜面精密离子测量装置和反射镜天线的镜面控制系统