要解决的问题:提供一种能够精确地测量诸如缺陷之类的测量对象的形状尺寸的方法。
解决方案:在这种形状尺寸测量方法中,通过使用计算机模型c的三维形状尺寸作为参考标准来测量缺陷b的长度尺寸L3,并将长度尺寸L3与长度进行比较。基于视差确定的尺寸。该工业内窥镜装置具备用于执行形状尺寸测定方法的控制部。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2005172667A
专利类型
公开/公告日2005-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 OLYMPUS CORP;
申请/专利号JP20030414748
发明设计人 OBATA MITSUO;
申请日2003-12-12
分类号G01B11/24;A61B1/00;A61B1/04;G02B23/24;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:32:49