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Diamond metal-filled patterns achieving low parasitic coupling capacitance

机译:金刚石金属填充图案实现了低寄生耦合电容

摘要

Provided are methods and composition for forming diamond metal-filled patterns above an integrated circuit substrate. A metal layer is formed above the integrated circuit substrate, which is then patterned such that a metal line is created. A plurality of diamond-shaped metal regions are then formed at least one of above and adjacent to the metal line formed on the integrated circuit substrate such that the density of metal on the integrated circuit substrate is greater than a specified density, thereby ensuring that a surface of dielectric formed above the metal line remains substantially planar after application of CMP to the dielectric layer.
机译:提供了在集成电路衬底上方形成金刚石金属填充图案的方法和组合物。在集成电路衬底上方形成金属层,然后对其进行构图,以形成金属线。然后,在形成于集成电路基板上的金属线的上方和附近的至少一个上形成多个菱形金属区域,以使得集成电路基板上的金属的密度大于指定的密度,从而确保在将CMP施加到电介质层之后,在金属线上方形成的电介质的表面保持基本平坦。

著录项

  • 公开/公告号US2005098895A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHIH-JU HUNG;

    申请/专利号US20040016468

  • 发明设计人 CHIH-JU HUNG;

    申请日2004-12-16

  • 分类号H01L21/4763;H01L23/48;H01L23/52;H01L29/40;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:26:10

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