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Process for generating a hard mask for the patterning of a layer, and hard mask for the patterning of a layer

机译:产生用于图案化层的硬掩模的方法以及用于图案化层的硬掩模

摘要

A process for generating a hard mask for the patterning of a first layer includes applying a second layer, which includes carbon, to the first layer that is to be patterned. A third layer, which includes silicon and carbon, is spun onto the second layer and an organic antireflection coating layer is applied to the spun-on third layer.
机译:用于产生用于第一层的图案化的硬掩模的工艺包括:将包括碳的第二层施加到要被图案化的第一层。将包括硅和碳的第三层旋涂到第二层上,并将有机抗反射涂层施加到旋涂的第三层上。

著录项

  • 公开/公告号US2005106478A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MATTHIAS LIPINSKI;

    申请/专利号US20040970483

  • 发明设计人 MATTHIAS LIPINSKI;

    申请日2004-10-21

  • 分类号G03F7/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:25:43

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